P300J電動手動探針臺
•300毫米手動晶圓探針臺             
•操縱桿控制             
•“微觸摸”電動控制             
•可配置用于直流、射頻、微波和高功率應用             
•-55C至300C可配置

微操作器P300J 300毫米探針臺是目前穩定、直觀和節省空間的手動300毫米分析探針臺。P300J是為低電流、亞微米定位應用而設計的，標配了單點接地、干燥/黑暗環境和集成熱卡盤管道等功能。電動控制裝置提供動態速度范圍，允許jinque定位和遠距離移動
該系統支持多種選擇，甚至與我們行業標準4000和8000系列（200毫米）工作站的附件（操縱器、探針座、探針卡座）向后兼容
該工作站包括一個可調節的顯微鏡提升延遲，可防止探頭進入顯微鏡物鏡，這是微操作人員增加的功能，也是我們專業探測系統的標志。
 
 P300J可配置用于熱應用，包括我們的微操作器的“頂帽”，用于低溫、無霜凍的環境下測試。支持三種溫度范圍：
•環境溫度（室溫）至300攝氏度             
•0攝氏度至300攝氏度             
•-55攝氏度至300攝氏度
P300J適合需要探測整個300毫米晶圓，但不需要半自動探針臺進行大容量測試的情況

P300A半自動探針臺
•*300毫米半自動晶圓探針臺
•包括NETPROBE-7控制軟件             
•來自流行測試公司的驅動程序，包括Keysight、Keithley和LabVIEW             
•可配置用于直流、射頻、微波和高功率應用            
 •-55C至300C可配置

P300A半自動探針臺             
微操作器p300a300毫米半自動探針臺是目前穩定、直觀、節省空間的300毫米半自動分析探針臺。專為低電流、亞微米定位應用而設計，P300A標配單點接地、干燥/黑暗環境和集成熱卡盤管道。P300A以可靠性和精密度為目標，其特點是具有堅固的卡盤安裝和諧波θ驅動的閉環操作
操縱桿和MicroTouchTM控件都直觀地操作工作站級、平臺（Z）和θ以及顯微鏡X-Y和Z驅動器。本地觸摸屏顯示器還為探針臺硬件提供本地設置和操作編程功能。來自流行測試公司的驅動程序，包括Keysight、Keithley和LabVIEW             
P300A可以配置微型操作器“頂帽”進行水平、無霜溫度測試。支持三種溫度范圍：            
 •環境溫度（室溫）至300攝氏度             
•0攝氏度至300攝氏度             
•-55攝氏度至300攝氏度             
P300A是300毫米探針的選擇，尤其對于那些需要高度jinque的步驟和重復的應用